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Oberflächenanalytik - Übersicht

Die Möglichkeiten die Oberfläche eines Werkstoffs zu analysieren sind sehr komplex.

Je nach Art, Dicke und zu untersuchenden Elementen müssen die jeweils dafür in Frage  kommenden Analysenmethoden ausgewählt werden.

 

Das unten aufgeführte Diagramm gibt einen kurzen Überblick über die Möglichkeiten der oberflächenanalytischen Untersuchungsmethoden. Je nach Art, bzw. Umfang der zu untersuchenden Oberflächen, sind wir in der Lage die optimale Analysenmethode für Sie auszuwählen.

 

 

 

 

 

 

3. Quantitative GDOES-Tiefenprofilanalysen

Quantitative GDOES-Tiefenprofilanalysen mit Spezialbedingungen und –gasen zeigen eindeutig eine sehr geringe Kupferanreicherung an der Oberfläche.  Eine Quantifizierung wird nicht durchgeführt.

 

 

 Bild: Leiterplatte mit GDOES Sputterkrater

 

 

 

Bild: Qualitativer GDOS-Tiefenprofilverlauf

 

 

 

4. TOF-SIMS

Die Bestätigung einer Kupferanreicherung an der Oberfläche gelingt mittels TOF-SIMS-Analysen. Im Mapping ist eine sehr dünne Kupferschicht nachweisbar, die zudem nicht komplett geschlossen an der Oberfläche vorliegt.

 

 

 

 

 

In Teilbereichen lassen sich lokal angereichert Kupferpartikel erkennen.

 

 

 

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